Webb và Spitzer khảo sát đĩa mảnh vụn cực đoan quanh sao trẻ

Dữ liệu từ James Webb và Spitzer được dùng để khảo sát các hệ sao trẻ có dấu hiệu va chạm, tập trung vào những đĩa mảnh vụn cực đoan. Mẫu 21 hệ cho thấy nhóm đĩa này hiếm và có các đặc điểm gắn với va chạm giữa những thiên thể lớn.

Mẫu gồm 21 hệ, với 5 đĩa từ dữ liệu lưu trữ của Spitzer và 16 đĩa từ Webb; trong số này có 12 đĩa mới được quan sát. Ngoài ra, 4 đĩa từng được Spitzer phát hiện được quan sát tiếp theo.

Các đĩa này có ba đặc điểm chung: hạt bụi nhỏ hơn, nồng độ bụi ấm cao và biến đổi độ sáng bất thường.

Chúng được xếp vào loại hiếm và trái với các dự báo lý thuyết.

Nhóm đĩa được chia thành loại giàu silica và loại nghèo silica; khoảng một phần ba là giàu silica, hai phần ba còn lại là nghèo silica.

Loại giàu silica được tạo ra bởi các vụ va chạm năng lượng cao giữa những thiên thể cỡ Sao Hỏa. Loại nghèo silica bắt nguồn từ các vụ va chạm nhỏ hơn, dạng sượt qua, giữa những thiên thể cỡ Mặt Trăng.

Webb được dùng để kiểm tra các hệ sao trẻ có dấu hiệu va chạm; Spitzer trước đó đã phát hiện một lớp con gọi là đĩa mảnh vụn cực đoan và hiện đã nghỉ hưu.

Với độc giả theo dõi lĩnh vực Mặt Trăng, các đĩa này cho thấy dấu vết của va chạm giữa thiên thể cỡ Sao Hỏa và cỡ Mặt Trăng, còn Mặt Trăng của Trái Đất nhiều khả năng là kết quả của một vụ va chạm như vậy.

Trong bối cảnh NASA đang đưa con người trở lại Mặt Trăng và chuẩn bị cho Sao Hỏa, dữ liệu về các vụ va chạm này có ý nghĩa với nghiên cứu nguồn gốc Mặt Trăng.